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        離子遷移測(cè)試裝置(CAF)

        簡(jiǎn)要描述:ECM-100離子遷移測(cè)試裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION )。

        • 更新時(shí)間:2025-12-03
        • 訪  問  量:16055
        • 廠商性質(zhì):代理商
        • 產(chǎn)品型號(hào):ECM-100
        品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
        加工定制

        離子遷移測(cè)試裝置(CAF)(Ion Migration Test Device)用于測(cè)試電子產(chǎn)品中的材料是否存在離子遷移現(xiàn)象。其原理是在加速電場(chǎng)的作用下,使樣品中的離子遷移到對(duì)面的電極上,從而檢測(cè)出樣品中是否存在離子遷移。

        通常該裝置由兩個(gè)電極、電源、電壓控制器和采樣器等部分組成。樣品被放置在兩個(gè)電極之間,然后施加電場(chǎng)并記錄電流隨時(shí)間的變化情況。如果電流隨時(shí)間逐漸增加,則說(shuō)明樣品中可能存在離子遷移現(xiàn)象。

        離子遷移測(cè)試裝置(CAF)主要用于評(píng)估電子產(chǎn)品中使用的材料是否能夠滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)的要求,以確保產(chǎn)品的可靠性和耐久性。

        ECM-100離子遷移測(cè)試裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION )。

        ECM-100離子遷移測(cè)試裝置產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

        簡(jiǎn)單/便利

        △采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測(cè),測(cè)試時(shí)焊接工序大幅減少。

        △軟件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單明了,能夠非常直觀得操作。

        △配有過程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。

        △測(cè)試中,設(shè)備可以單獨(dú)運(yùn)行,電腦電源切斷也不受影響。

        高性能&高機(jī)能

        △因?yàn)槊總€(gè)通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測(cè)電路,可以做到16ms的計(jì)測(cè)間隔。

        →遷移現(xiàn)象的檢測(cè)能力更高,對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。

        △一臺(tái)電腦可以增設(shè)400通道。

        △每個(gè)通道可以設(shè)定不同的電壓。

        可靠性更高&操作更簡(jiǎn)潔

        △具有自身診斷機(jī)能,把異常計(jì)測(cè)防范于未然。

        △配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。

        △每個(gè)單元獨(dú)立,其中一個(gè)單元損壞,可以單獨(dú)拆卸維修,而不影響其他通道使用。

        △標(biāo)準(zhǔn)配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

        用途

        PCB板、焊接、樹脂、導(dǎo)電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測(cè)試。

        △作為高性能/多通道絕緣電阻測(cè)試裝置,可以在多領(lǐng)域利用。

        實(shí)例

        △測(cè)試難度大的高阻值也能除去干擾,清晰得進(jìn)行測(cè)試。

        16msec的高速抽樣處理,不會(huì)漏掉任何一個(gè)數(shù)據(jù)。

        △電容器等絕緣電阻的試驗(yàn)也非常合適。

        離子遷移測(cè)試裝置

        離子遷移測(cè)試裝置(CAF)

        離子遷移測(cè)試裝置(CAF)

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